ATCompiler

首页 > 产品中心

ATCompiler® 是Semitronix提供的可寻址测试芯片设计平台。该平台提供了一个完整的对大型可寻址及划片槽内可寻址测试芯片的解决方案。提供版图自动化、全芯片仿真和验证、同一平台下的设计文档和测试程序的自动生成。

  • 使用类似SRAM的解码器在阵列中选择测试结构;
  • 内置有针对不同工艺节点的良率阵列,参数化阵列和晶体管阵列的可寻址IP;
  • 高面积利用率,并满足高测量精度的实验设计;
  • 允许重叠测试结构以进一步节省面积。

主要特点:

  • 灵活的阵列尺寸和输出端区域;
  • 可以简单灵活地放在划片槽或者主区域;
  • 自动并优化测试结构摆放及绕线;
  • 基于DOE表的自动化测试结构;
  • 全芯片LVS与后仿;
  • 自动测试程序生成及自动设计文档。

优点:

  • Ioff与栅极漏电流的测试分辨率可达到pA级;
  • 通过使用较少的焊盘和不同层之间的重叠测试结构实现了至少10倍的面积利用率;
  • 完整的模拟和验证流程;
  • 平台稳定且不依靠第三方版图软件即可自动完成版图设计。

Download booklet




Copyright©杭州广立微电子有限公司 2013-2015 All Rights Reserved