DataExp^® 是一款功能强大的WAT和测试芯片数据的分析工具。提供了非常方便的数据过滤和选择操作、强大的绘图功能与自动生成分析报告功能，可以用于方便地分析数据并快速构建16种不同类型的图表来完成WAT或In-line数据的分析报告。

主要特点：

• 数据过滤和绘图时友好的用户图形界面；
• 灵活的数据分析功能并支持3级数据过滤；
• 支持用户自定义输出，包括各类统计计算和skew、outlier、 IDU、gap等计算；
• 支持16种不同类型的图表，包括框图、wafer map、相关图、CDF图、良率图、失效率图等；
• 绘图配置功能保证复用性及数据独立性；
• 支持WAT和in-line两种数据分析；
• 方便的失效规范和属性编辑；
• 灵活的过程分流分析；
• 自动数据载入和报告生成，且支持邮件发送报告功能。

优点：

• 极大地减少在WAT和芯片测试数据的分析上所使用的人力；
• 包括关键区域的失效率图表均可以被直接应用于成品率模型；
• 简单快速地在不同产品和工艺之间转换。

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