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Semitronix为客户提供业界领先和一站式的可寻址测试芯片方案,该解决方案极大地缩小了测试芯片面积,同时缩短了测试时间。 可寻址解决方案包括两部分:可寻址IP和可寻址测试设计平台。

可寻址IP包括外围电路(寻址电路/信号选择电路、开关电路等)和焊盘。Semitronix提供了不同的IP类型来支持不同的测试结构类型。

• 将可寻址方法集成到IP设计中,节省焊盘所占的面积,极大地提高了测试芯片的面积利用率
• 通过提供所需的可寻址IP而不是花费时间从头设计,帮助用户有效地设计测试芯片
• 优化的可寻址IP外围电路,同时确保高精度的测量结果
• 为良率分析、以及晶体管、环形振荡器、电容的测量提供四种可用的IP

ATCompiler® – 可寻址测试芯片设计平台。该平台提供了一个完整的大型可寻址及划片槽内可寻址测试芯片的设计解决方案,功能包括版图自动化生成、全芯片仿真和验证、同一平台下的设计文档和测试程序的自动生成等。可寻址测试芯片包括了可寻址IP和测试结构。

• 使用类似SRAM的解码器在阵列中选择测试结构
• 内置有针对不同工艺节点的良率阵列、参数化阵列和晶体管阵列的可寻址IP
• 支持基于PCell的测试结构以及产品版图中获取的weak-spot结构以及标准单元的测试结构
• 允许重叠测试结构以进一步节省面积


Addressable Yield IP


Addressable Yield Test Chip