Your Yield Partner
提交信息

Semitronix测试仪T4100 是Semitronix第4代快速电学参数测试机的并行测试机型。该设备可为用户提供持续准确的快速测试解决方案,用于快速工艺监控。

• 能够用于半导体晶圆制造的先进工艺中
• 极大地减少测试时间
• 与Semitronix的可寻址测试芯片解决方案结合使用,速度更快
• pA级及以下的精确度

主要特点

• 为客户在程序控制过程中提供准确且高度自动化的测试解决方案
• 提供两种操作方式:在线测试、离线测试
• 使用TCL语言创建算法,易于编辑和调试
• 根据前期测试结果能够让工程师灵活地改变测试计划的细节
• 方便地控制晶圆探针台并制定测试框架的执行流程
• 兼容行业标准的晶圆探针台
主要优点 • >在可寻址芯片测试上测试速度可以达到普通测试机的10倍以上
• 可靠的可寻址测试芯片电学参数的快速测量解决方案
• 平行测试可进一步减少测试时间和测试成本
• 极大地简化实际生产环境中测试系统与晶圆探针台的操控
• 智能软件环境