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量产工艺过程监控

在晶圆/芯片的大规模量产过程中,我们为客户提供高效的工艺监控和WAT方案。

快速电学参数测试机可以替代现有行业常用/标准测试机,降低产品总体成本(COO: cost of ownership),提高运行效率。更快速的测试吞吐量也意味着将收集更多的数据,占用更少的空间。

Semitronix基于可寻址技术的工艺监控系统可以确保客户的稳定生产,与传统的解决方案相比,我们的产品技术方案可以覆盖更广的工艺范围。目前,我们帮助客户发现工艺偏移和缩短解决时间(MTTD/MTTR: mean time to detect/solution),并减少了划片槽区域的使用面积。